이름 : 맹기룡

Tel : 031-750-8726

E-Mail : xrd1@gachon.ac.kr

X-선을 발생시켜 시료를 조사할 때 생기는 회절 패턴을 이용하여 원소의 화학적 결합상태, 잔류응력 및 집합조직에 대한 문제 등 물질구조 및 성분 분석에 기본적으로 사용되는 장비로 특히 화합물분석, FINE CERAMIC 등의 신소재 등의 연구, 개발과 생산된 제품의 분석이 가능하다. 물질을 구성하는 원자의 종류와 배열 상태에 따라 달라지는 X-선 회절각 및 강도를 측정하여 물질의 구조 정보를 정성·정량 분석한다. 

X-ray generator Max. output : 3kW 

Stability : ±0.01 per 10 of main voltage variation 

Tube Target : Cu 2kW as standard 

X-ray shutter : Two electromagnetic shutter 

Goniometer Scan mode : θ 2θ coupled drive and θ 2θ depende 

Radius :1 85mm 

- 결정구조분석 박막구조 해석 결정결함 분포 측정

- 분말 회절분석 

  : 정성, 정량, 결정화도, 격자상수, 결정자 사이즈/격자변형평가, Rietveld, 구조해석 

- 고분해능 박막 응용 

  : 박막두께, 밀도, 조성 분석, 방위 및 배향, 결정성 평가